Интерференционные линииназад
Так, при прохождении параллельных лучей через прозрачную пластину происходит частичное отражение их от первой и второй поверхностей. На выходе из пластины интерферируют проходящие лучи С aD или отраженные А и В. Проходящие лучи интерферируют значительно слабее, чем отраженные, но интерференцию можно усилить, нанеся на поверхность полупрозрачное зеркальное покрытие. Лучи усиливаются в тех точках, где разность хода двух отраженных лучей или лучей, прошедших через пластину разными путями, оказывается кратной длине волны света: имеет значительный размер (170 X X 170 мм), тогда как при ртутной лампе система позволяла исследовать поле 80 X 80 мм.
Интерференционные линии в этом случае являются линиями равной толщины пластины или линиями одинаковой величины зазора между базовой пластиной и поверхностью, рельеф которых исследуется. Чтобы интерференционные линии равной толщины появились, модели должны иметь поверхность с весьма малой начальной разнотолщинностыо. Обычно оргстекло или фотоупругий материал, отлитый в стеклянные формы, имеют небольшую клиновидность, поэтому линии оптической интерференции образуют мелкую регулярную сетку. Используя прием двойной экспозиции или наложения фотосеток до и после нагружения, получают картины муаровых полос, соответствующие изопахам.
На схеме изображена установка с гелиево-неоновым лазером, на которой решен ряд контактных задач. Ранее на интерферометре с обычной ртутной лампой и введением в одно из плеч интерферометра элементов кругового полярископа Низида и Сато также получили суммы и разности главных напряжений как совмещенные картины изопах и изохром ная Низида и Сато. Результаты параметрического исследования концентрации напряжений около отверстия, расположенного у края полуплоскости и нагруженного болтом, приведены в работе. Значения ККН получены раздельно для тангенциальных, сдвиговых и максимальных напряжений смятия. Трудоемкость выполнения этого исследования традиционными методами с численным разделением главных напряжений несоизмерима с трудоемкостью эффективного поляризационно-интерферометрического исследования.
Дата: 25 октября 2011