Комбинации методов в решении инженерных задачназад
В двулучепреломляющей среде рассеяние поляризованных лучей происходит от каждой из двух составляющих, разложенных в квазиглавных направлениях. Существует несколько схем измерения разности хода лучей в сечении без разрезки модели: классическая схема Веллера, схема Робэра-Гиемз и компенсационная схема комбинированного метода, предложенная К.Е. Комаровой, А.И. Лебедевым и Е.И. Эдельштейном. Если в направлении рассеяния поляризованных лучей вращения квазиглавных напряжений не происходит, например, вдоль оси вала при чистом кручении и освещении узкой полоской ("ножом") , перпендикулярной к оси вала, то зависимости между разностью квазиглавных напряжений и шагом наблюдаемых полос интерференции особенно просты. Для решения сложных объемных задач разработана методика и аппаратура УРС-А.И выполнен ряд инженерных исследований.
В сложных задачах строительной механики, когда объекты состоят из канонизированных элементов и их комбинаций (тонкостенные оболочки, пластины, мембраны, балки), имеющих особенности в граничных условиях и нагрузках, применяют экспериментально-теоретический метод (А.В. Саченков, В.И. Кучерюк).
На основании общих уравнений прикладной теории упругости и корректного модельного или натурного эксперимента находят аналитические решения в замкнутом виде, причем экспериментальные данные представляют в виде аппроксимирующих функций, входящих в систему соответствующих дифференциальных уравнений (например, функции прогибов, углов поворота, напряжений в задачах расчета пластин и оболочек). Для выполнения экспериментов в этом случае применяют точные методы экспериментальной механики - метод топографической интерферометрии и разновидности метода муаровых полос.
В решении трудоемких параметрических задач применяют комбинации экспериментальных методов, с использованием для построения зависимостей данных, полученных многими исследователями и разными методами. Задачу о зенкованных отверстиях решали методом "замораживания" (МЗ), методом малобазной тензометрии (МВТ) и методом фотоупругих покрытий (МФП).
Дата: 25 октября 2011