Метод рассеянного светаназад
Погрешности, связанные с различием коэффициентов Пуассона при высокоэластичном состоянии модели (дм = 0,5) и значениями ц для реальной детали
Если известны закон изменения ах и аг или их разность вдоль оси z, например, при линейном изменении толщины, то возможно экспериментальное решение объемной задачи. Во всех других случаях необходимы дополнительные условия эксперимента или применение внешних дополнительных физических полей, чтобы получить условие, которое несет экспериментальную информацию о распределении напряжений на световом луче. В методах "замораживания", составных моделей, рассеянного света реализуют дополнительное условие: разрезку модели, в которой зафиксирован фотоупругий эффект; вклейку в оптически неактивный материал или условие "светового ножа" в методе рассеянного света. Все эти условия исключают действие интегрального закона Вертгейма.
Новое направление в исследовании объемных задач XJC. Абен и его ученики развили, применив принцип дополнительных физических полей, строго обосновав условия и технические возможности реализации методов интегральной фотоупругости. Так, дополнительные члены в уравнениях фотоупругости появляются, например, если искусственно вызвать вращение плоскости поляризации, установив модель в сильном магнитном поле. В основе разработанного метода магнитофотоупругости лежит "эффект Фарадея" и прецизионная фотоэлектрическая регистрация характеристических угловых величин.
Метод рассеянного света (МРС). Свойства прозрачной среды рассеивать свет, отражаемый от микрочастиц, соизмеримых с длиной волны, положены в основу исследования объемных задач методом рассеянного света. Если естественный, неполяризованный луч вошел в прозрачную изотропную модель, то в плоскостях, перпендикулярных к направлению луча, происходит рассеяние света, причем все лучи в этих плоскостях будут плоскополяризованными. Если в модель вошел плоскополяризованный луч, то лучи рассеяния также будут плоскополяризованными, но их интенсивность зависит от направления наблюдения. Наибольшая интенсивность соответствует направлению, перпендикулярному к направлению входящего луча.
Дата: 25 октября 2011