Содержание магнетита в природных базальтахназад
Содержание магнетита в природных базальтах невелико: от 5 до 10% по массе. Количество магнетита, выпадающего при кристаллизации расплавов природных базальтов, иногда значительно возрастает и может достигать 10-15%. Это связано с режимом процесса кристаллизации: в природных условиях кристаллизация лав и особенно магм происходит с меньшей скоростью охлаждения, чем кристаллизация базальтовых расплавов в технике.
Вторым минералом, выпадающим при высокой температуре, является оливин. Кристаллы оливина образуются не всегда (согласно, при содержании MgO выше 15%). Температура кристаллизации оливина для базальтовых расплавов, «ненасыщенных» кремнекислотой и богатых оксидом магния (более 10% MgO), достигает 1300 °С [86]. Температура кристаллизации оливина коррелирует с содержанием породообразующих оксидов. Получено уравнение одномерной регрессии.
Температура кристаллизации оливина 1300°С соответствует,, согласно формуле, базальтам, содержащим около 13,5% MgO, а для «среднего» базальта с 6,17% MgO она составляет 1163±26 °С. Количество высокотемпературных минералов (магнетита, оливина), выпадающих из расплавов базальтов,, обычно не превышает 5-10%.
Роль оксидов железа в магматических породах двойная: отчасти они входят в фемические минералы, отчасти - в магнетит, что послужило основанием для отнесения их к числу акцессорных компонентов, т. е. таких, которые уже при незначительном содержании в силикатном расплаве выпадают в виде кристаллов акцессорных минералов. В соответствии со сказанным оксиды FeO и Fe203, идущие на образование магнетита, считаются избыточными и инертными компонентами. Так, если магнетит из расплава диабаза выпал при 1250 °С, то выдержка расплава при данной температуре даже в течение 50 ч не приводит к появлению в расплаве каких-либо других кристаллов. Это позволяет считать, что выпавшие кристаллы магнетита не влияют на кристаллизацию оставшегося расплава и для определения продуктов дальнейшей кристаллизации расплава при охлаждении можно воспользоваться имеющимися диаграммами состояния силикатных систем.
Дата: 09 октября 2011