Новости строительных технологий от компании НовоСРУБ

Наши спонсоры:

По схеме Б используют контрольный растр, наложенный с весьма малым зазором на рабочий растр, нанесенный на деталь. Контрольный растр базируется непосредственно на образце по осям симметрии или в точках, где известны перемещения. Вариантом схемы Б является схема Bt предназначенная для прозрачных объектов. В этом случае модель с рабочим растром освещается коллимационным пучком света; между контрольным и рабочим растром обычно вводят иммерсионную жидкость.

По схеме Г реализуют оптическое совмещение рабочего и контрольного Растров с помощью длиннофокусного объектива и поворотного экрана. Эту мированном состоянии детали, то определенные по ней перемещения и и v соответствуют координатам Эйлера.

Схему применяют для бесконтактных измерений при повышенных температурах, в условиях динамических нагружении, в агрессивных средах, а также при исследовании объемных прозрачных моделей с вклеенными растрами.

Если по схемам Б, В и Г камера регистрирует муаровые полосы и к разрешающей способности задиафрагмированного объектива не предъявляется высоких требований, то для схемы А камерой фотографируют растры, а для схемы Г проекционный объектив должен обладать, кроме высокой разрешающей способности, свойствами телецентрической системы, т.е. при некотором изменении расстояния объектива до объекта незначительно изменять размер изображения и обладать достаточной глубиной резкости.

Независимо от схемы совмещения двух растров в плоских задачах (за исключением схемы А) применяют два способа отсчета муаровых полос: способ дифференциального муара и способ простого муара. В первом случае предварительно создают статическую исходную муаровую картину, например, с помощью малого поворота контрольного растра или изменения масштаба рабочего растра, чтобы вести относительный отсчет полос приращения. Во втором случае используют начальную нулевую картину муаровых полос, выявляющую в основном несовершенства модели или предварительную нагрузку на нее.

Дата: 23 октября 2011